HAST高压加速寿命试验箱

HAST高压加速老化试验箱适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药、线路板，多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测，相关之产品作加速寿命试验，使用于在产品的设计阶段，用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的耐厌性，气密性。测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力（如：温度）与工作应力（施加给产品的电压、负荷等），加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。

产品特点：

1.  智能型排气设计(锅炉内空气抽出)提高压力稳定性、再现性；

2.  长时间实验机台运转400小时超长效实验运转时间；

3.  箱体耐压力（140℃）2.65kg,符合水压测试6kg tank耐压设计；

4.  二段式压力安全保护装置采两段式结合控制器与机械式压力保护装置；

5.  安全保护排压钮紧急安全装置二段式自动排压钮。

产品参数：

产品实拍图：

公司介绍：